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주사전자현미경 분석과 X선 미세분석, 교문사, 9788936320751, 윤존도,양철웅,김종렬,이석훈,박용범,권희석 공저
주사전자현미경 베스트1위
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주사전자현미경 상세 비교
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주사전자현미경 분석과 X선 미세분석, 교문사, 9788936320751, 윤존도,양철웅,김종렬,이석훈,박용범,권희석 공저 제품 상세 설명
| 구분 | 내용 |
|---|---|
| 제목 | 주사전자현미경 분석과 X선 미세분석 |
| 저자 | 윤존도, 양철웅, 김종렬, 이석훈, 박용범, 권희석 공저 |
| 출판사 | 교문사 |
| ISBN | 9788936320751 |
| 분야 | 과학/기술 |
| 페이지 | 384쪽 |
| 판형 | 210*297mm |
| 출간일 | 2017년 02월 20일 |
| 상세 설명 | 본 교재는 주사전자현미경(SEM)과 X선 미세분석(EDS, WDS)의 기본 원리와 응용 분야, 실제 분석 방법을 다루고 있습니다. SEM과 X선 미세분석의 기본 원리 및 작동 원리를 설명하고, 다양한 분석 방법과 응용 사례들을 상세히 소개합니다. 또한, SEM 분석 시 주의해야 할 점과 데이터 해석 방법 등 실질적인 정보를 제공합니다. 각 장의 내용을 쉽게 이해할 수 있도록 그림과 사진을 풍부하게 사용하였으며, 독자들이 직접 실험을 할 수 있도록 실습 문제와 연습 문제를 제공합니다. 본 교재는 SEM과 X선 미세분석을 처음 접하는 학생이나 연구자들에게 유용한 학습 자료가 될 것입니다. |
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